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羅德與施瓦茨FSP3—分辨率帶寬1Hz - 10MHz —高選擇性的數(shù)字和FFT濾波器 —準(zhǔn)峰值檢波器和EMI帶寬 —接口：GPIB、Centronics、RS232C —自動(dòng)測(cè)量TOI、OBW、相位 躁聲和ACP（R） —可在時(shí)域快速測(cè)量：FSP3 小掃描時(shí)間1μS —可作TDMA信號(hào)測(cè)量的門控掃描 長(zhǎng)期回收/租賃/銷售羅德與施瓦茨 | ROHDE/SCHWARZ R&S FSP3 3G頻譜

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更新日期：2023-11-15

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AgilentU2001A功率計(jì)探頭不需要使用單獨(dú)的功率計(jì)，即可在電腦和其它安捷倫儀器上進(jìn)行平均功率測(cè)量，具有傳統(tǒng)功率計(jì)和傳感器相同的功能。通過(guò)USB供電和內(nèi)置觸發(fā)，它不需要外電源適配器或觸發(fā)模塊便可與外部?jī)x器和事件同步，是進(jìn)行高性能移動(dòng)功率測(cè)量的理想選擇，其設(shè)置簡(jiǎn)單，經(jīng)濟(jì)適用。

型號(hào)：

更新日期：2023-11-20

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HP8753C網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率范圍：300kHz~ 6GHz 集成化1Hz分辨率合成信號(hào)源 用外部磁盤驅(qū)動(dòng)器直接存儲(chǔ)/調(diào)用 時(shí)域分析 用測(cè)試序列功能實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的測(cè)試過(guò)程 達(dá)100dB的動(dòng)態(tài)范圍 可測(cè)量群延遲和與線性相位的偏離 0.001dB,0.010,0.01ns的標(biāo)記分辨率 提高內(nèi)置精度 掃描諧波測(cè)量

型號(hào)：

更新日期：2023-11-20

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Agilent33120A函數(shù)信號(hào)發(fā)生器10種標(biāo)準(zhǔn)波形，正弦波和方波可達(dá)15MHz 。 *可用40MSaYs的速度和4個(gè)16,000點(diǎn)的波形存儲(chǔ) 構(gòu)建任意波形 。 內(nèi)置16K深度的任意波形發(fā)生器處理你所需要的自定義波形。 內(nèi)部AM,FM,FSK和脈沖串調(diào)制功能使你不需要第2個(gè)調(diào)制源。 HPBenchLinkArb軟件可使用簡(jiǎn)單的圖形工具，或從其它程序輸入的數(shù)據(jù)構(gòu)建波形。

型號(hào)：

更新日期：2023-11-20

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34970A數(shù)據(jù)采集器美國(guó)Agilent安捷倫34970A數(shù)據(jù)采集器 特點(diǎn)$n$n可配置成20至120個(gè)通道,6位半分辨率,0.004%基本直流精度,250通道秒掃描速率,50000個(gè)讀數(shù)存貯,可測(cè)量交直流電流,電阻,頻率和調(diào)期,以及由熱電耦、熱電阻和熱敏電阻提供的溫度直流和交流電壓,標(biāo)準(zhǔn)HP-IB和RS232接口

型號(hào)：Agilent34970A

更新日期：2023-11-15

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Agilent 53150A CW微波計(jì)數(shù)器是一種全功能CW微波計(jì)數(shù)器，特別適合獨(dú)立使用環(huán)境或ATE環(huán)境，同時(shí)它的功能非常強(qiáng)大，可以處理要求Z苛刻的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用。它實(shí)現(xiàn)了高性能，具有超寬帶輸入，涵蓋了從50 MHz到20 GHz的RF和微波頻段。可以通過(guò)一個(gè)輸入同時(shí)測(cè)量頻率和功率。

型號(hào)：

更新日期：2023-11-15

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Chroma19032安規(guī)測(cè)試儀，可執(zhí)行交直流耐壓、絕緣電阻、接地電阻及動(dòng)態(tài)泄漏電流（選購(gòu)）五項(xiàng)電子安規(guī)測(cè)試功能，多應(yīng)用于電子成品之安全規(guī)格檢測(cè)，可直接外插或內(nèi)建動(dòng)態(tài)泄漏電流掃描裝置（A190305），19032系列的簡(jiǎn)易裝置及操作，可測(cè)量復(fù)雜的安規(guī)要求，為提高生產(chǎn)測(cè)試效率的Z佳電子安規(guī)分析儀。

型號(hào)：

更新日期：2023-11-20

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Agilent4339B阻抗分析儀規(guī)格 測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率） 數(shù)學(xué)功能：偏差和百分偏差 顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇） 測(cè)試電壓：0.1 ～ 1000Vdc 0.1 ～ 200Vdc時(shí)，以0.1V步進(jìn) 0.1 ～ 1000Vdc時(shí)，以1V步進(jìn) 電壓精度：≤200V時(shí)為0.16％+100mV

型號(hào)：

更新日期：2023-11-20

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的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍 和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合Z通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IECMIL標(biāo)準(zhǔn)（電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)），且工作在 模擬所使用的工作條件下。無(wú)論在研究開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。

型號(hào)：

更新日期：2023-11-15

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